| 产品简介 玉米考种分析系统：专业玉米籽粒、果穗、截面的精确考种以及出苗数、整齐度、均匀度分析。其他分析：千粒重，百粒重，籽粒产量 详细介绍 玉米考种分析系统 玉米考种分析系统 · 可对图片玉米的散粒、整穗、截面进行分析，玉米考种分析及千粒重仪系统是根据图像识别原理来实现自动分析的。 · 本配置专用于玉米籽粒、果穗、截面的精确考种分析（紫黑色玉米的果穗不能测）成像特性：扫描分析的种粒直径0.5～20mm。适用分析工作区尺寸：扫描仪A3幅面（431.8mm×301mm），可同时成像分析10个玉米果穗、35个玉米截面、1000粒左右的玉米籽粒。 · 拍照成像分析为A4幅面。图像观察：具有任意放大、缩小、局部观察功能； · 籽粒数粒速度、精度：自动数粒速度：1500～3000粒/分钟，数粒误差≤±1%，监视修正即达99%正确。自动测出籽粒数、各籽粒的粒形参数（长、宽、长宽比、面积、等效直径、周长等），以及其平均值。 · 自动千粒重分析的精度误差：≤±0.5%。果穗、截面分析速度、精度：自动测出各玉米穗长、穗粗、秃尖长、左右穗缘角、穗行角、测量粒数、平均粒高、行粒数、穗行数。截面穗行数、穗粗、轴粗，以及其平均值，可测出各玉米截面上的粒长、粒宽、颜色等参数。 · 备注：（电子天平内有驱动光盘，联上电脑之前需安装驱动）电子天平RS232重量数据的自动输入接口，天平上的被测样本重量数据可一键导出到电脑保存为EXCEL表。全程电脑控制，高效、准确、简便易用，真正一键式操作，鼠标一点，结果即现。 分析数据导出：分析图像结果可保存，自动形成总报表，统计分析结果能输出至Excel表。 |
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玉米考种分析系统 产品信息
关键词：电子天平
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