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TMS透过率测量仪(ir透过率测量仪)

参考价面议
具体成交价以合同协议为准
  • 公司名称广州标旗光电科技发展股份有限公司
  • 品       牌
  • 型       号
  • 所  在  地广州市
  • 厂商性质其他
  • 更新时间2026/2/3 12:17:05
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广州标旗光电科技发展股份有限公司成立于2005年,位于国家*产业开发区广州科学城。在光谱快速检测领域深耕10年,熟悉各种光谱快速检测方案的搭建,为化工、光电、材料、农学、生物等不同领域的客户提供了上百种检测方案,2014年被认定为。公司拥有*的研发、销售团队,拥有的创新能力,目前,公司累计获得20多项并拥有自己的品牌商标,公司发展势头强劲,2015年荣获广州开发区“瞪羚企业”称号,2016年成功认定为广州市研发机构,2016年顺利通过ISO 9001:2015质量管理体系认证。  标旗在“科技创新,真诚服务”的企业核心价值观的下,不断创新和发展,形成集算法开发、软件开发、硬件开发、光路设计及电路设计为一体的研发体系,标旗团队基于光纤光谱仪的应用,开发了不同应用领域的光谱快速检测仪器,不断沉淀与打造自主品牌——科思凯(Qspec)。目前,标旗已拥有一系列具有核心竞争力的科思凯产品,包括:平面光学元件光谱分析仪、球面光学元件显微检测仪、透过率检测仪、珠宝检测仪、近红外光谱检测仪、全光谱层析扫描仪、非接触光学测厚仪、微量紫外分光光度计、检测仪、物质分析仪和高功率卤素冷光源等。标旗科思凯系列产品仪器优势显著,具有高效、迅速、准确的特点,将“中国创造”的研发理念与攻关思路融入到每项产品的开发中,实现产品应用与科技进步、市场需求紧密结合,不断突破传统技术,实现产业升级改造,实现理论研究与生产应用的转化,真正将创造力作为公司不断向前发展的核心动力,将中国创造内化于企业发展中。  同时,标旗也是许多国际科技装备企业在国内的的代理商和经销商,包括:Ocean Optics光纤光谱仪(华南区总代理),PerkinElmer分析仪器、P&P成像光谱仪。   标旗秉承专业、真诚、贴心的服务宗旨,针对客户的需求,量身定制光谱检测应用方案,帮助客户解决科研和生产中的实际问题,全程提供售前、售中和售后服务。标旗的成长离不开客户的支持,目前,公司积累了丰富的技术和客户资源,积极与高校合作,致力于产学研的成长模式;而且努力为同行业者搭建线上和线下交流平台,向客户学习,更好的服务于客户。  科技的发展日新月异,标旗紧跟科技进步与时代发展的步伐,在光谱快速检测道路上不断前行,臻于至善。
TMS透过率测量仪(ir透过率测量仪) 产品信息

TMS透过率测量仪(ir透过率测量仪)

 

 

TMS是一套全波长的透过率测量仪(ir透过率测量仪),能快速准确地测量各类平面、球面、非球面等光学元件的相/透射率,可用于实时显示单、多点波长透过率数据及指定波段平均透过率数据。适用于手机盖板IR孔、棱镜、镀膜镜、胶合镜、平行平板、太阳膜、滤光片等平面、球面非球面光学元件及组合镜头等的检测。紫外透过率测量仪专为检测样品紫外波段透过率设计。

 

紫外透过率测量仪

 

显微透过率测量仪基于普通透过率测量仪的测试原理,增加显微光路和成像CCD对测试区域进行精确定位,用小尺寸光斑(0.3mm)测试样品微小区域的相/透射率。除了可对玻璃、平行平板、太阳膜、滤光片等平面光学元件的透过率检测之外,特别适用于手机盖板IR孔、菜单键、返回键等微小区域的透过率检测。

 

TMS透过率测量仪(ir透过率测量仪)-技术参数

型号

TMSI型)

TMS型)

TMSIII型)

探测器

Sony线形CCD 阵列

Hamamatsu背照2D-CCD

Hamamatsu2D-CCD

检测范围

380-1000nm

(紫外:200-850nm)

380-1100nm

(紫外:200-1100nm)

360-1100nm

(紫外:225-1000nm)

信噪比(全信号)

2501

450:1

10001

相对检测误差

0.6%410-900nm

0.4%410-1000nm

0.2%410-1000nm

检出限

0.1%

0.05%

0.01%

单次测量时间

1s

CCD制冷

未制冷

未制冷

-20

样品尺寸

≥ Φ1.5mm (显微:0.8nm)

光斑

可调,≥ Φ0.6mm(显微≥ Φ0.3mm

操作系统/接口

Windows XP, Windows Vista/ USB2.0

电源/功率

220V-50HZ /6W

 

TMS透过率测量仪-独特的软件设计

l        智能化软件操作:可自定义测量方式和角度,实时显示测量样品关注波长位置的透/反射率数据,自动调整显示坐标范围,高效地进行批量样品检测及谱图对比分析。

l        谱图管理:可同时记录多达20个样品谱图,批量保存测量结果,记录谱图测试积分时间,能对谱图进行更名、定义颜色、选择是否显示、加粗等操作,地方便了谱图的管理和分析。

l        自定义测量方案:用户可以自行定义测量的方案,同时设置判定标准,使检测更快速,结果更准确。

l        谱图数据处理功能:备有丰富的光学元件数据库,可根据数据库已存标准数据对比分析结果,用户可自行对数据库进行添加、修改和删除,还可将测量数据导入Excel有利于进一步对谱图进行分析和研究。

l        CIE颜色测量功能:可以计算样品各种CIE颜色参数, xyL,a,b,饱和度,主波长等。

l        数据报告打印功能:可快速批量打印样品测量数据及谱图,自定义测量报告出具单位名称。

关键词:探测器
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