
CSK-IB试块在原有CSK-IA的基础上增加了测试斜探头折射角的刻度面。形状和尺寸如下图所示:
使用要点:
①利用R100mm曲面测定斜探头的入射点和前沿长度;
②利用Φ50和1.5mm圆孔测定斜探头的折射角;
③利用试块直角棱边测定斜探头声束轴线的偏离情况;
④利用25mm厚度测定探伤仪水平线性、垂直线性和动态范围;
⑤利用25mm厚度调整纵波探测范围和扫描速度;
⑥利用R50和R100mm曲面调节横波探测范围和扫描速度;
⑦利用Φ50、Φ44和Φ40mm三个台阶孔测定斜探头分辨力。

CSK-IB试块在原有CSK-IA的基础上增加了测试斜探头折射角的刻度面。形状和尺寸如下图所示:
使用要点:
①利用R100mm曲面测定斜探头的入射点和前沿长度;
②利用Φ50和1.5mm圆孔测定斜探头的折射角;
③利用试块直角棱边测定斜探头声束轴线的偏离情况;
④利用25mm厚度测定探伤仪水平线性、垂直线性和动态范围;
⑤利用25mm厚度调整纵波探测范围和扫描速度;
⑥利用R50和R100mm曲面调节横波探测范围和扫描速度;
⑦利用Φ50、Φ44和Φ40mm三个台阶孔测定斜探头分辨力。
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