Scientific Test, Inc，总部位于美国德州。简称STI，专注于分立元器件的测试源的开发，我们惊异地发现美工级，火箭级，卫星级产品所使用的器件报告。每个分离元器件报告，都是采用STI的数据存档格式。STI5000C测试系统是一项高速多用途半导体分立器件智能测试系统。它具有十分丰富的编程软件和强大的测试能力。可真实准确测试达类二十七分类大、中、小功率的半导体分立器件。ST产品使用比较方便，只需要通过USB或者232与电脑连接，通过电脑中友好的人机界面操作，即可完成测试。并可以实现测试数据以EXCEL的格式保存，特性曲线保存相当方便。
测试范围：
1．二极管 Diode
2.．稳压（齐纳）二极管 Zener
3．晶体管 Transistor（NPN型/PNP型）
4．可控硅整流器（普通晶闸管） SCR
5．双向可控硅（双向晶闸管） TRIAC
6．MOS场效应管 Power MOSFET（N-沟/P-沟）
7．结型场效应管 J-FET （N-沟/P-沟，耗尽型/增强型）
8. 三端稳压器 REGULATOR（正电压/负电压，固定/可变）
9．绝缘栅双极大功率晶体管 IGBT（NPN型/PNP型）
10.光电耦合器 OPTO-COUPLER（NPN型/PNP型）
11.光电逻辑器件 OPTO-LOGIC
12.光电开关管 OPTO-SWITCH
13.达林顿阵列
14.固态过压保护器 SSOVP
15.硅触发开关 STS
16.继电器 RELAY（A、B、C型）
17.金属氧化物压变电阻 MOV
18.压变电阻 VARISTO
19.双向触发二极管 DIAC
