镀层测厚工作更简单：
• 坚固耐用的镀层和成分分析设备，可在工厂环境条件下获得重复精度很高的测试结果。
• 满足标准ISO 3497, ASTM B568, DIN 50987。
• 元素测试范围Ti (22) 和 U (92)。
• 钨靶材微聚焦X射线管，电压50KV，50W可调，满足各种镀层测试应用。
• 高灵敏度正比计数探测器。
• 多准直器为测试不同尺寸的样品提供便利。
• 无标样法用于厚度和材质分析，可使用少量类型标准片节约标样成本。
• 配置常规分析屏幕显示所需的配置。
• 样品室可以根据样品的尺寸和形状选择开槽式和封闭式。
• 固定式样品台适用于单点测试，自动样品台适用于多点或多样品测试。
• 激光聚焦和选配的自动聚焦功能确保样品测试的简便性和重复性。
• 选配的可变焦系统，提供自动变焦功能。
*的软件功用于日程分析和数据处理：
• 根据应用程序推荐校准条件且可自由更改条件设定。
• 批次测量数据统计功能包含COV、值、最小值、平均值、标准偏差等质量控制参数。
• 样品谱图峰位识别功能，样品未知元素定性功能。
• 基于统计数据创建测试报告。
X-ray组件防撞保护功能：
• 超大可视窗口用于查看样品位置及测试头位置。
• 影像视窗可观察样品位置及X射线探头高度。
• Z轴防撞保护功能--测试头碰撞样品后Z轴锁定。
选配功能：
• 配置广域相机即便测试大体积或复杂样品时也能方便的选择测试位置。
• 选配图像处理软件可用于精准定位识别相同几何形状及相同凹凸度的样品。
• 选配操纵杆用于样品定位。
• 选配钴二次滤波器优化特定应用的光谱评估。
质保期：
标准一年原厂保修
