T2008湿法全量程激光粒度仪|大量程粒度分析仪
发布时间：2020/06/21 点击量：
一、产品简介
T2008是一款测试范围覆盖毫米、微米、亚微米、纳米全量程的智能全自动激光粒度仪。采用了双光束多频谱探测系统和超微颗粒测试新技术，极大的提高了仪器测试的精度和性能。代表了国内该领域的*水平。
二、适用范围
T2008全量程湿法激光粒度仪，广泛应用于具有高要求的水泥、陶瓷、药品、涂料、染料、颜料、填料、化工产品、催化剂、煤粉、泥砂、粉尘、面粉、食品、添加剂、农药、、石墨、感光材料、燃料、金属与非金属粉末、碳酸钙、高岭土、水煤浆及其他粉体行业。
三、主要性能特点
全新的测试原理：该款仪器在采用经典Mie氏散射原理、会聚光傅立叶变换以及无约束自由拟合数据处理技术的基础上，柔和了频谱放大技术，从而在有限的空间内拓宽了测试范围；
操作和校准全自动化：使用过程中，只要针对所测样品的特性设置好测试条件后，分散、测试、冲洗等一系列操作过程便可自动完成，并得出准确、可靠的测试结果。另外，利用三维对中系统调节光电探测器，在避免人工调试所带来的繁琐的同时，对整个光路系统可随时校准，保证其准确对中，从而对测试结果的准确度和稳定性提供了有力的保障；
有效的分散循环系统：在配有常规的超声和搅拌分散装置外，还针对宽分布样品和比重较大的颗粒，专门配备了大流量循环泵，以防止因大颗粒丢失而导致测试结果不准确的现象。因而，该仪器在不同的粉体行业更具有广泛适用性；
的测试标准：采用多种微米、亚微米及纳米级国家粒度标准物质，对仪器进行全量程校准标定，使其在其整个测量范围之内得到真实、准确的测试结果。
四、T2008 激光粒度分析仪技术参数：
| 规格型号 | T2008A | T2008D | |
| 执行标准 | ISO 13320-1:1999；GB/T19077.1-2008；Q/0100JWN001-2013 | ||
| 测试范围 | 0.01-2000μm | 0.01-1200μm | |
| 探测器通道数 | 127 | 127 | |
| 准确性误差 | <1%（国家标准样品D50值） | ||
| 重复性误差 | <1%（国家标准样品D50值） | ||
| 激光器参数 | 主激光源：高性能He-Ne激光器 λ= 632.8nm, p>3.0mW 辅助激光源：半导体激光器，λ= 650nm；p>2mW | ||
| 分散方法 | 超声 | 频率：f=40KHz, 功率：p=50W | |
| 搅拌 | 转速：0-3000rpm转速可调 | ||
| 循环 | 额定流量：30L/min 额定功率：70W | ||
| 样品池 | 容量：1000mL | ||
| 操作模式 | 软件操作 / 全自动操作模式可切换 | ||
| 自动对中系统 | 全自动对中系统 | ||
| 测试速度 | <2min/次 | ||
| 体积 | 660mm*320mm*400mm | ||
| 重量 | 65Kg | ||
1.采用全内置分散系统：使用大功率循环泵，对管路进行优化设计，使整体控制协调性达到水平，有效的防止了大颗粒的二次沉淀。
2.采用精密四项混合式步进电机组成光路自动对中系统，微动精度达到微米级别，使仪器光路始终处于好的状态。
3.无约束自由拟合技术：无约束自由拟合技术，不受任何函数限制，可真实反映颗粒的分布状态。
4.光路设计：采用会聚光傅立叶变换技术，使散射光不受透镜孔径限制；采用双谱面光路设计，有效扩大测量范围至2000微米；双激光正交光路使用半导体辅助激光器测量侧向散射45度至135度，将测量范围进一步扩展。
