概述:
AUTO-JZ010型晶振测试仪是一款用来测试晶振频率、精度、漂移等指标的通用测试仪器。
仪器采用超高精度的有源温补晶振作为时间基准；高速ECL电路进行信号的整形、放大、计数 ;单片机进行系统管理及数据处理。仪器自身带有的Pierce振荡电路，可以用来直接测试35MHZ以下的无源基频晶振（超过35M的基频晶振很少）、以及100MHZ以下的泛音晶振的基频频率。另外系统留有“有源晶振”的测试接口，配备相应的附件可用来测试有源晶振；而且系统还设置了外部信号的测量通道，可以扩展作为频率计使用。
功能及用途
本仪器可直接测量35MHz以下无源晶振的频率、以及100MHz以下泛音晶振的基频频率，可满足绝大部分晶振测量的需要。（绝大多数的基频晶振频率都<35MHz，泛音晶振多为3倍泛音，）。可直接测量插脚封装晶振，配备“贴片晶振测试座”也可测量贴片封装晶振；
另外本仪器还留有“有源晶振测试接口”，配备不同规格的“贴片晶振测试座”后可以测量
5v、3.3v、1.8v供电的不同封装的有源晶振；而且还留有外部信号输入接口，可以测量其它设备的信号。
该设备可以测量如下类型的参数：
1.频率
2.周期
3.频率偏差率
4.频率漂移率
5.漂移监测时间
主要技术指标：
AUTO-JZ010型晶振测试仪是一款用来测试晶振频率、精度、漂移等指标的通用测试仪器。
仪器采用超高精度的有源温补晶振作为时间基准；高速ECL电路进行信号的整形、放大、计数 ;单片机进行系统管理及数据处理。仪器自身带有的Pierce振荡电路，可以用来直接测试35MHZ以下的无源基频晶振（超过35M的基频晶振很少）、以及100MHZ以下的泛音晶振的基频频率。另外系统留有“有源晶振”的测试接口，配备相应的附件可用来测试有源晶振；而且系统还设置了外部信号的测量通道，可以扩展作为频率计使用。
功能及用途
本仪器可直接测量35MHz以下无源晶振的频率、以及100MHz以下泛音晶振的基频频率，可满足绝大部分晶振测量的需要。（绝大多数的基频晶振频率都<35MHz，泛音晶振多为3倍泛音，）。可直接测量插脚封装晶振，配备“贴片晶振测试座”也可测量贴片封装晶振；
另外本仪器还留有“有源晶振测试接口”，配备不同规格的“贴片晶振测试座”后可以测量
5v、3.3v、1.8v供电的不同封装的有源晶振；而且还留有外部信号输入接口，可以测量其它设备的信号。
该设备可以测量如下类型的参数：
1.频率
2.周期
3.频率偏差率
4.频率漂移率
5.漂移监测时间
主要技术指标：
| 频率测量范围 | 20Hz-100MHz |
| 周期测量范围 | 1ns-10s |
| 采样时间（T） | 0.01s、0.1s、1s、10s可调 |
| 频率分辨率(R.P.) | 1. T=0.01s 时R.P.=100HZ T=0.1s 时R.P.=10HZ T=1s 时R.P.=1HZ T=10s 时R.P.=0.1HZ |
| 基准频率 | 10MHz |
| 基准精度 | 2ppm |
| 测量精度 | 2.5倍基准精度+1 R.P. |
| 外部输入信号幅度 | 50mv-10v |
| 环境温度 | 20±15℃ |
| 电源 | 100-240v、50/60Hz |
| 功耗 | <10W |
