在LED电源产品的设计过程中，工程师们需要处理的绝不仅仅是电路设计问题，更多的是LED电源的驱动方案选择、LED的寿命维系以及后期的维护和检修工作等。今天小编特别整理了一些在LED检修和LED电源设计过程中的实用经验，通过问答的形式与各位新人工程师们一起分享，下面就让我们一起来看看吧。
*个问题：在设计LED电源产品时，怎么做才能设计出高品质LED驱动电路呢？
相信很多从事LED电源设计的工程师们都非常清楚，LED是目前世界上所研发的一种长寿命的电子元件，理想状况下的LED其工作寿命可达50000小时，但应用电路设计不合理、LED电源散热性设计不好等因素，都会影响它的使用寿命。而面对这一问题，使用能够省去电解电容器的新一代LED驱动IC，是一种切实可行的解决方案。
对于从事LED电源及周边产品研发的工程师们来说，在设计新一代的驱动IC时，必须要打破以往传统的DC-DC拓扑结构设计思维，可以采用恒功率、摒弃磁滞控制的降压型设计思路来进行新产品研发，采用定频定电流控制也是一个好办法。除此之外，高品质的LED驱动电路电路应力求简洁，减少元器件的使用数量，并有效提高PWM控制器的占空比等。满足以上条件，所设计的新一代驱动IC才能够满足高品质驱动电路的设计需求。
第二个问题：LED被静电击穿的原理是什么样子的?造成击穿的原理是怎么回事呢？
在进行LED电源的调试过程中，相信工程师们都曾经遇到过接通样机后，LED元件被击穿的情况，这其中有相当一部分是被静电所击穿的。LED作为一种半导体，其本身的PN结是直接裸露在外头的，很容易接触静电。当LED两个电极上极性不同的电荷积累到一定的程度，又得不到及时释放时，此时电荷能量一旦超过LED芯片zui大承受值，电荷将以极短的瞬间在LED两个电极层之间进行放电，并在导电层之间局部会形成1400℃以上的高温，高温将会把导电层之间熔融成一些小孔，这就是我们在LED电源测试过程中，常遇到的LED击穿现象了。
在进行LED电源的新产品样机测试时，一旦遇到LED元件被静电击穿的现象，说明所设计的电路中有不合理的因素存在，此时工程师需要及时的进行电路设计调整并重新测试。
