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涂镀层测厚仪

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产品型号HD-1945

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所在地北京市

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更新时间：2018-05-14 09:00:00浏览次数：294次

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北京杰瑞恒达科技有限公司

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产品简介

涂镀层测厚仪探头可以在电磁感应和涡流两种原理下工作。在自动模式（AUTO）下，两种原理可视测量的基体自动转换，或可通过菜单进行自动模式和非自动模式转换。

详细介绍

产品名称:涂镀层测厚仪
规格型号:HD-1945

涂镀层测厚仪产品概述详细

产品描述

探头可以在电磁感应和涡流两种原理下工作。在自动模式（AUTO）下，两种原理可视测量的基体自动转换，或可通过菜单进行自动模式和非自动模式转换。

产品特性
1、可测量涂镀层：任何磁性物质表面的非磁性涂镀层厚度；任何非磁性金属表面的绝缘涂镀层厚度
2、易于操作的菜单设计
3、连续和单次测量方式
4、直接工作模式和组工作模式
5、可统计并显示：平均值、zui大值、zui小值、标准方差、统计数
6、非常方便的进行一点或两点校准
7、可保存320个测量数据
8、USB传输数据至计算机分析统计
9、实时删除测量数据和组数据
10、高低限报警
11、低电和错误提示可设置的自动关机功能

产品应用
本仪表可应用在无损、快速和高精度涂镀层测厚领域。它是油漆、防腐蚀、电镀、汽车工业、轮船运输、飞机制造等相关行业理想的辅助制造生产工具。它可以稳定地工作于实验室，车间现场和户外。同时，它可以工作在电磁感应和涡流两种原理下，完成不同涂镀层的测厚任务。

技术指标

传感器探头	铁磁性	非铁磁性
工作原理	磁感应	涡流
测量范围	0~1250um 0~49.21mils	0~1250um 0~49.21mils
误差（相对当前读数）	0~850 um （+/- 3%+1um） 850um~1250 um （+/- 5%） 0~33.46 mils （+/- 3%+0.039mils） 33.46um~49.21mils （+/- 5%）	0~850 um（+/- 3%+1.5um） 850um~1250um （+/- 5%） 0~33.46mils （+/- 3%+0.059mils） 33.46um~49.21mils （+/- 5%）
精度	0~50um （0.1um） 50um~850um（1um） 850um~1250um（0.01mm） 0~1.968mils （0.001mils） 1.968mils~33.46mils（0.01mils） 33.46mils~49.21mils（0.1mils）	0~50um （0.1um） 50um~850um（1um） 850um~1250um（0.01mm） 0~1.968mils （0.001mils） 1.968mils~33.46mils（0.01mils） 33.46mils~49.21mils（0.1mils）
测量zui小曲率半径	1.5mm	3mm
zui小测量面积（直径表示）	7mm	5mm
可测量基体 zui小厚度	0.5mm	0.3mm
工作温度	0℃~40℃（32℉~104℉）
工作湿度	20%~90%

单位换算：

1、mil（PCB或晶片布局的长度单位）：1 mil =千分之一英寸，1mil = 0.0254mm。

2、um有时也做微米（单位）使用，1mm（毫米）=1000um（微米） 1um=1000nm（纳米）。

使用方法

1、工作模式：
1-1.AOTO：探头根据待测物体性质（铁磁性物质或非铁磁性金属）自动转入相应工作模式。如果待测物体是铁镍等磁性金属物质，探头将转入磁感应原理工作模式；如果待测物体时非磁性的金属物质，探头将转入涡流原理工作模式。
1-2.Fe：探头将是磁感应原理工作模式。
1-3.No-Fe：探头将是涡流原理工作模式。
2、直接测量（DIR）：开机默认为此模式。用于快速随意测量。在此模式下，测量数据会临时保存在内存中，可以通过菜单浏览所有已存数据和统计值，但一旦关机、系统掉电或从直接测量模式切换到组工作模式，这些数据将会丢失。此模式下，zui多可统计80个数据，超出的读数将替换zui旧读数并保存更新统计值。
3、组测量（GR01～GR04）：每一组工作模式下，系统可保存zui多80个数据，5个统计值。关机和掉电，所有保存值不会丢失，并且组与组之间相互独立不受影响，需要删除保存的值，可通过菜单操作进行。当测量数据超出80个，数据测量可以继续进行，但是所有数据将不被保存和统计计算。如有需要，可通过菜单删除组数据。

4、读数浏览：通过“Measurement view”菜单项，浏览当前工作组所有测量读数。
5、测量中的统计数据：厚度统计数据可统计80个读数（GR01～GR04总共zui多可存储4*80=320个读数）。此外，在DIR模式除了读数不存储外，其他和GRO模式相同。
NO.：开机以来进行统计的读数个数
AVG：平均值
Sdev：标准方差
MAX：zui大读数
MIN：zui小读数