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韩国先锋X射线荧光镀层测厚仪
韩国Micro Pioneer XRF-2000电镀层测厚仪
检测电子电镀镀层厚度,如铜上镀银,铜上镀镍,铜上镀镍镀金,铁上镀锌,铁上镀镍,镀铜,镀锡,镀铬等
X射线或粒子射线经物质照射后，由于吸收多余的能量而变成不稳定的状态。从不稳定状态要回到稳定状态，此物质必需将多余的能量释放出来，而此时是以荧光或光的形态被释放出来。荧光X射线镀层厚度测量仪或成分分析仪的原理就是测量这被释放出来的荧光的能量及强度，来进行定性和定量分析
韩国XRF2000X荧光无损电镀测厚仪
可测单层,双层,多层,合金镀层,
测量范围:0.04-35um
测量精度:±5%,测量时间只需30秒便可准确知道镀层厚度
全自动台面,自动对焦，操作非常方便简单
应用实例图示
| （1）单镀层：Ag/xx | | （2）合金镀层：Sn-Pb/xx | | （3）双镀层：Au/Ni/xx |
| Ag | | Sn-Pb | | Au |
| 底材 | | 底材 | | Ni |
| | | | | 底材 |
| | | | | |
| （4）合金镀层：Sn-Bi/xx | | （5）三镀层：Au/Pd/Ni/xx | | （6）化学镀层：Ni-P/xx |
| Sn-Bi | | Au | | Ni-P |
| 底材 | | Pd | | 底材 |
| | | Ni | | |
| | | 底材 | |
| （1）单镀层：Ag/xx | | （2）合金镀层：Sn-Pb/xx | | （3）双镀层：Au/Ni/xx |
| Ag | | Sn-Pb | | Au |
| 底材 | | 底材 | | Ni |
| | | | | 底材 |
| | | | | |
| （4）合金镀层：Sn-Bi/xx | | （5）三镀层：Au/Pd/Ni/xx | | （6）化学镀层：Ni-P/xx |
| Sn-Bi | | Au | | Ni-P |
| 底材 | | Pd | | 底材 |
| | | Ni | | |
| | | 底材 | | |
韩国先锋XRF-2000镀层测厚仪
检测电子及五金电镀,化学电镀层厚度
主要检测:镀金,镀银,镀镍,镀铜,镀铬,镀锌,镀锡,及各种合金镀层等
韩国XRF2000镀层测厚仪
全自动台面
自动雷射对焦
多点自动测量 (方便操作人员准确快捷检测样品）
测量样品高度不超过3cm(亦有10CM可选)
特别订制可测20cm以内高度产品
镀层厚度测试范围：0.03－35um
可测试单镀层，双镀层，多镀层及合金镀层厚度
测量时间：10－30秒
精度控制：
*层：±5%以内
第二层：±8%以内
第三层：±12%以内
产品检测完成可自动生成检测报告,方便存档
韩国先锋X荧光无损电镀测厚仪:检测电子电镀镀层厚度
XRF-2000镀层测厚仪,测韩国先锋X射线荧光镀层测厚仪量镀金,镀银,镀镍,镀锌,镀铜,镀锡,镀钯等
