HIOKI日置IM3570阻抗分析仪
IM3570 是 Hioki 的宽带 4Hz-5Mz 用于高速测试和扫频阻抗分析仪。
IM3570 Hioki 阻抗分析仪
Hioki IM3570 阻抗分析仪，宽带 4Hz-5Mz，用于高速测试和频率扫描
HIOKI日置IM3570阻抗分析仪
特征：
用于高速测试和扫频的单设备解决方案
Hioki IM3570 阻抗分析仪、LCR 表和阻抗分析仪能够将 4 Hz 至 5 MHz 的测量频率和 5 mV 至 5 V 的测试信号电平组合到一台测量仪器中。高级功能包括交流信号的 LCR 测量、直流电 (DCR) 的电阻测量以及连续改变测量频率和测量电平的扫描测量。
IM3570有助于在不同的测量条件和测量模式下进行高速连续测量，因此迄今为止需要多台测量仪器的检测线只需一台设备即可。
测量时间缩短
与以前的型号相比，测量时间缩短了，在 LCR 模式下实现了 1.5ms (1 kHz) 和 0.5ms (100kHz) 的速度。（当显示器关闭时，当显示器打开时，时间增加 0.3 ms）。与以前的 Hioki 产品（基本速度为 5ms 的 3522-50 和 3532-50）相比，这是一个显着的速度提升。更快的速度有助于增加测试数量。此外，需要测量多个点的扫描测量实现了每点0.3ms的快速速度。
低阻抗测量精度提高
与以前的 HIOKI 产品相比，低阻抗测量时的重复精度提高了一位数。例如，当条件为 1 mΩ (1V, 100 kHz) 且测量速度为 MED 时，可以以 0.12% 的重复精度（变化）进行稳定测量，从而使本仪器适用于 100 kHz ESR 测量。
电感器（线圈和变压器）的 DCR 和 LQ 测量
仪器可连续测量LQ（1 kHz，1mA恒流）和DCR，并在同一屏幕上显示数值。电流相关元件，例如包含电感值根据施加电流而变化的磁芯的线圈，可以用恒定电流 (CC) 测量。与以往产品相比，低阻抗测量时的重复精度提高了个位数，因此可期待稳定的 DCR 测量。
与以前的 Hioki 产品相比，通过提高 0 的测量精度，对于 0 处于 90° 附近的高 Q 和 Rs 值，可以进行比以前更好的一位数的精度和重复精度的测量。
产品特点：
LCR、DCR、扫描和连续测量，在一个单元中进行高速测试
LCR 模式下的测试速度为 1.5ms (1 kHz) 和 0.5ms (100kHz)
Z参数基本精度高：±0.08%
非常适合测试压电元件的谐振特性、功能性聚合物电容器的 CD 和低 ESR 测量、电感器（线圈和变压器）的 DCR 和 LQ 测量
在分析仪模式下执行频率扫描、电平扫描和时间间隔测量
支持测量条件的高速切换
