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摘要
本应用笔记主要介绍 HC32F460 系列 MCU 的片上温度传感器 OTS 的特点、使用方法及注意事项。
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简介
HC32F460 系列 MCU 的片上温度传感器 OTS，可实时获取芯片内部的温度，以支持系统的可靠性设计。OTS 不需要 ADC 的参与，使用时只需直接读取寄存器，算术运算后即可得到温度值，不使用的时候可关闭以减少系统功耗。
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定标实验
要想获得准确的温度值，有两个参数非常重要，一个是温度斜率 K，一个是温度偏移量 M。这两个参数需要用户通过定标实验来得到，然后保存起来，供后续使用。参数 K 和 M 不具有通用性，每颗芯片都需要做定标实验；OTS 可选择外部晶振 XTAL 或内部高速晶振 HRC，两种晶振测得的 K 和 M 也不具有通用性。
3.1
实验条件
定标实验需要一个高低温箱，一个数字温度计（用来获取高低温箱内的准确温度值，如果高低温箱的温度足够精准，则不需要），串口调试工具（用来观察实验数据）。推荐用户在 25℃和 105℃这两个温度值上做定标实验。
3.2
实验步骤
定标实验例程 ots_05_scaling_experiment 中设置有定标实验的触发方式，例程中用的是按键 （引脚 PC1）按下并释放作为触发方式，之所以设置触发方式，是为了让实验是可控制的。用户可根据自己的实际需求，修改触发方式。具体实验步骤如下。
1.
修改好触发方式后，重新编译工程，并下载到目标板；
2.
将目标板和数字温度计放入高低温箱，设置高低温箱温度为 25℃，并启动高低温箱；
3.
待高低温箱温度稳定在 25℃约 5 分钟后，触发定标实验运行；
4.
通过串口调试助手可获得一个参数 A，记为 A1，并记录当前高低温箱的实际温度为 T1；
5.
将高低温箱温度设置为 105℃并运行；
6.
待高低温箱温度稳定在 105℃约 5 分钟后，触发定标实验运行；
7.
通过串口调试助手可获得一个参数 A，记为 A2，并记录当前高低温箱的实际温度为 T2；
8.
通过下面两个公式可得 K 和 M：
K = (T2 – T1) / (A2 – A1);
M = T1 – K × A1 = T2 – K × A2；
本实验例程会输出 XTAL 和 HRC 对应的参数 A，用户可根据实际需求计算对应的 K 和M。
9.
修改 hc32f46x_ots.c 中 K 和 M 的值，利用例程 ots_01_base 便可验证参数的准确性；
10.
用户可将 K 和 M 保存至 Flash，以备后续使用；
11.
定标实验结束。
