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武汉普赛斯仪表有限公司
武汉普赛斯仪表有限公司
| 尺寸 | 425*255*106mm | 重量 | 5KG |
|---|---|---|---|
| 测试范围 | 0.3mV-300V/100nA-1A |
半导体特性曲线分析仪是普赛斯历时多年打造的高精度、大动态范围、数字触摸的国产化的源表，集电压、电流输入输出及测量等多种功能，Z大输出电压达300V，最小测试电流达100pA，支持四象限工作，因此能广泛的应用于各种电气特性测试中:半导体IC或元器件，功率器件，传感器，有机材料与纳米材料等特性测试和分析。
武汉普赛斯半导体特性曲线分析仪，特别适用于精密电压源和电流源驱动，且同时进行电流与电压测量的测试应用。所有源表皆提供精密的电压和电流源测量能力。每个源表均由一个高稳定的直流源和一个真仪器级的5位半多功能表组成。
该电源特性包括：低噪声，高精度和回读功能。万用表功能包括高重复性和低噪音。其结果形成了一个紧凑的单通道直流参数测试仪。在操作中，这些仪器可以作为一个电压源，电流源，电压表，电流表和电子负载。
半导体特性曲线分析仪技术参数为：
（1）输出功率：30W
（2）电压范围：±0.1%~±300V
（3）电流范围：±100pA~±1.05A
（4）电压精度：0.01%
（5）电 压 源 精 度 ：±( 0.01 %+ 30m V)
（6）电 压 测 量精 度 ： ± (0.0 1%+30m V )
（7）电 流 源 精 度 ：± (0 .01%+2mA )
（8）电 流 测 试精 度 ：± (0 .01 %+ 2m A) ；
（9）电流精度：0.01%
（10）接口方式：RS232串口、GPIB、LAN
数字源表特点
5寸800*480触摸显示屏，全图形化操作
内置强大的功能软件，加速用户完成测试，如LIV、PIV
源及测量的准确度为0.1%，分辨率5数位
四象限工作（源和肼），源及测量范围：电流100pA~1A，电压0.3mV~300V
丰富的扫描模式，支持线性扫描、指数扫描及用户自定义扫描
支持USB存储，一键导出测试报告
支持多种通讯方式，RS-232、GPIB及以太网
S系列源表应用
•分立半导体器件特性测试，电阻、二极管、发光二极管、齐纳二极管、PIN二极管、BJT三极管、MOSFET、SIC、GaN等器件；
•能量与效率特性测试，LED/AMOLED、太阳能电池、电池、DC-DC转换器等
•传感器特性测试，电阻率、霍尔效应等
•有机材料特性测试，电子墨水、印刷电子技术等
•纳米材料特性测试，石墨烯、纳米线等
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