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高频介电常数测试仪

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具体成交价以合同协议为准

产品型号ZJD -B

品       牌

厂商性质生产商

所  在  地北京市

更新时间:2019-07-18 15:50:39浏览次数:787次

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产品简介

ZJD-B型高频介电常数测试仪作为一代的通用、多用途、多量程的阻抗测试仪器,测试频率上限达到目前国内gao的160MHz.ZJD-C介电常数介质损耗测试仪采用了多项领xian技术。

详细介绍

一、概述:

    ZJD-B型高频介电常数测试仪作为一代的通用、多用途、多量程的阻抗测试仪器,测试频率上限达到目前国内gao的160MHz.ZJD-C高频介电常数测试仪采用了多项领xian技术。

双扫描技术 - 测试频率和调谐电容的双扫描、自动调谐搜索功能。

双测试要素输入 - 测试频率及调谐电容值皆可通过数字按键输入。

双数码化调谐 - 数码化频率调谐,数码化电容调谐。

自动化测量技术 -对测试件实施 Q 值、谐振点频率和电容的自动测量。

全参数液晶显示 – 数字显示主调电容、电感、 Q 值、信号源频率、谐振指针。

DDS 数字直接合成的信号源 -确保信源的高葆真,频率的高精确、幅度的高稳定。

计算机自动修正技术和测试回路*化 —使测试回路 残余电感减至低,** Q 读数值在不同频率时要加以修正的困惑。

二、主要技术特性:

*1.信号源: DDS数字合成信号 100KHZ-160MHZ

*2.信号源频率精度3×10-5 ±1个字,6位有效数

3.Q值测量范围:1~1023

4.Q值量程分档:30、100、300、1000、自动换档或手动换档;

*5.电感测量范围:1nH~140mH 自身残余电感和测试引线电感的自动扣除功能

*6.电容直接测量范围:1pF~25nF

7.主电容调节范围: 17~240pF

8.准确度 150pF以下±1pF;150pF以上±1%

9.信号源频率覆盖范围100kHz~160MHz

10.合格指示预置功能范围:5~1000

11.环境温度:0℃~+40℃;

12.消耗功率:约25W;电源:220V±22V,50Hz±2.5Hz。

13. S916(数显)介电常数εr和介质损耗因数tanδ测试装置:

数显式微杆,平板电容器:

极片尺寸: 38mm

极片间距可调范围:≥15mm

夹具插头间距:25mm±0.01mm

夹具损耗正切值≤4×10-4 (1MHz)

测微杆分辨率:0.001mm

测试极片:材料测量直径Φ38mm厚度可调 ≥ 15mm

*液体杯:测量极片直径 Φ38mm; 液体杯内径Φ48mm 、深7mm

14. 电感组LKI-1:

分别有0.05μH、0.1μH、0.5μH、2.5μH、10μH、50μH、100μH、1mH、5mH、10mH十个电感组成。

三、配置:

主机 一台

电感 九支

夹具 一套

液体杯 一套

随机文件一套

ZJD-C型硫化橡胶介电常数介质损耗测试仪相关标准

硫化橡胶介电常数和介质损耗角

正切值的测定方法

警告:使用本标准的人员应有正规实验室工作的实践经验。本标准并未指出所有可能的安全问题。使用者有责任采取适当的安全和健康措施,并保证符合国家有关法规规定的条件。

 

1、范围:

本标准规定了介电常数和介质损耗角正切值的两种测定方法。方法A为工频(50Hz)下的测定方法,方法B为高频电场下的测定方法。

本标准适用于硫化橡胶。

2、规范性引用文件:

下列文件中的条款通过本标准的引用而成为本标准的条款。凡是注日期的引用文件,其随后所有的修改单(不包括勘误的内容)或修订版均不适用于本标准,然而,鼓励根据本标准达成协议的各方研究是否可使用这些文件的新版本。凡是不注日期的引用文件,其版本适用于本标准。

GB/T 2941 橡胶物理试验方法试样制备和调节通用程序(GB/T 2941-2006,ISO 23529:2004,IDT)

3、术语和定义:

下列术语和定义适用于本标准。

3.1

介质损耗 dielectric loss

绝缘材料在电场作用下,由于介质电导和介质极化的滞后效应,在其内部引起的能量损耗。

3.2

损耗角 δloss angleδ

在交变电场下,电介质内流过的电流向量和电压向量之间的夹角(功率因数角φ)的余角(δ)。

3.3

损耗角正切 tanδ loss tangentδ

介质损耗因数 dielectric loss factor

介质损耗角正切值。

3.4

介电常数 εdielectric constant

绝缘材料在电场作用下产生极化,电容器极板间有电介质存在时的电容量C、与同样形状和尺寸的真空电容量C0之比。

注:不同试样、不同电极的真空电容和边缘校正的计算参见附录A。

4、测试电极:

4.1 电极材料

见表1。

1——测量电极;

2——保护电源;

3——试样;

4——高压电极。

图 1 板状试样电极配置(工频)

4.2.1.2 方法B:采用二电极系统。电极尺寸大小与试样尺寸相等,或电极小于试样尺寸。板状试样电极直径为φ38.0mm±0.1mm、φ50.0mm±0.1mm、φ70.0mm±0.1mm。

4.2.2 管状试样电极

4.2.2.1 方法A:管状试样电极尺寸见表3,电极如图2所示。

1——保护电极;

2——测量电极;

3——高压电极;

4——试样。

图 2 管状试样电极配置(工频)

4.2.2.2 方法B:管状试样电极尺寸,电极如图3所示。

管状试样的电极长度为50.0mm±0.1mm或70.0mm±0.1mm。

1——试样;

2——上电极;

3——下电极。

图 3 管状试样电极配置(高频)

4.3 电极装置

在进行高频测试时,根据测试频率与测试要求可用支架电极(如图4),当频率大于或等于1MHz且小于10MHz时,宜用测微电极(如图5);当频率大于或等于10MHz时,应用测微电极。

1——上盖螺钉;

2——上盖板;

3——升降螺杆;

4——上电极导轨;

5——螺帽;

6——导筒;

7——导槽螺钉;

8——绝缘杆;

9——高压电极;

10——试样;

11——测量电极;

12——保护电极;

13——绝缘板(聚四氟乙烯板);

14——绝缘支脚;

15——有机玻璃板。

图 4 支架电极

1——微调管形电容器;

2——测试样品电容器;

3——上支撑板;

4——上电极;

5——试样;

6——下电极;

7——底板。

图 5 测微电极

5、测试仪器:

5.1 方法A

5.1.1 测试仪器为工频高压电桥,其原理图如图6所示。

T 试验变压器;

C3 标准电容器;

C5 试样;

R3 可变电阻;

C2、C4 可变电容;

R4 固定电阻;

G- 电桥平衡指示器;

P 放电器。

图 6 工频高压电桥原理图

5.1.2 测量范围

损耗角正切(tanδ):0.001~1;电容(C):40pF~2000pF。

5.1.3 电桥测量误差

测量时误差不超过10%,当试样tanδ小于0.001时测量误差不超过0.0001,电容的测量误差不超过5%,标准电容器的tanδ应小于0.0001。

5.1.4 电桥必须有良好的屏蔽接地装置。

5.2 方法B

5.2.1 方法B的测试仪器有两种:一种是谐振升高法(Q表),另一种时变电钠法。

5.2.1.1 谐振升高法(Q表)

其测试原理图如图7所示。

A 电流表;

R0 耦合电阻;

L 辅助线圈;

C 标准电容;

C0 试样;

V、V1 电压表(用Q值表示)。

图 7 Q表原理图

5.2.1.1.1 测量范围

频率为50Hz~50MHz,电容40pF~500pF,Q值10~600。

5.2.1.1.2 测量误差

电容误差:±(0.5%C+0.1pF),Q值±10%;有关仪器的测量误差均为±10%。

5.2.1.2 变电钠法

其测试原理如图8所示。

C——可调电容;

L——谐振线圈;

CT——管形微调电容;

Cu——主电容;

Cx——试样。

图 8 高频介质损耗仪原理图

6、试样:

6.1 试样尺寸

6.1.1 方法A试样尺寸见表4。

6.2 试样的制备

试样的制备应符合GB/T 2941的规定,也可以在符合试样厚度尺寸的胶板上用旋转刀进行裁切,制样方法的不同,其试验结果无可比性。

6.3 试样数量

试样的数量不少于3个。

7、硫化与试验之间的时间间隔:

试样在硫化与试验之间的时间间隔按GB/T2941的规定执行。

8、试验条件:

8.1 试样表面应清洁、平滑,无裂纹、气泡和杂质等,试样表面应用蘸有无水乙醇的布擦洗。

8.2 试样应在标准实验室温度及湿度下至少调节24h。

8.3当试样处理有特殊要求时,可按其产品标准规定的进行。

9、试验步骤:

9.1 方法A

9.1.1 试验电压为1000V~3000V,一般情况下为1000V,电源频率为50Hz。

9.1.2 按设备说明书正确的连接。

9.1.3 接通电源预热30min。

9.1.4 将试样接人电桥C、的桥臂中,加上试验电压,根据电桥使用方法进行平衡,读取R3和tanδ或C4的值。

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