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高分子材料介电常数及介质损耗测试仪

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产品型号ZJD-B

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所在地北京市

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更新时间：2019-07-09 12:11:37浏览次数：369次

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陶瓷高频介电常数测定仪

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北京航天纵横检测仪器有限公司

经营模式：生产厂家

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联系人：于梦洋（经理）

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产品简介

高分子材料介电常数及介质损耗测试仪具有抗电磁*力强、频率范围宽等特点，主要应用于材料研究与应用开发。测试电极使用铂金材料，可减少接触电阻。根据不同的测试材料，可以选择四探针与两探针两种测试夹具。

详细介绍

高分子材料介电常数及介质损耗测试仪

高低频介电常数测试仪

一、满足标准：

GBT 1409-2006测量电气绝缘材料在工频、音频、高频（包括米波波长在内）下电容率和介质损耗因数的*方法

GB/T1693-2007 硫化橡胶介电常数和介质损耗角正切值的测定方法

ASTM D150/IEC 60250固体电绝缘材料的(恒久电介质)的交流损耗特性和介电常数的测试方法

技术参数

校准频率：DC-30MHz

夹具设计：符合ASTM D150标准

测试原理：平行板电容器原理

高分子材料介电常数及介质损耗测试仪

测试电极：平行板上下电极+保护电极

电极直径：26.8mm

温度范围：RT-1000℃

工作温度：RT-600℃，RT-800℃

分析仪的其他关键特性还包括：紧凑的外形，可与其他仪器和工具合理利用工作台空间；简单易操作的用户界面；10.4 英寸彩色 LCD 触摸显示屏；多重设置功能，可确保用户对同一时间不同条件下的多个参数进行评估；精心设计的等效电路分析功能，支持七种不同的多参数模式，利用此项功能用户能够对元器件的等效参数值进行仿真。

控温精度：±0.3℃

显示精度：0.1℃

升温速率：1-6℃/min

4个元件测试夹具（被测件尺寸：0.5 mm至20 mm）

高分子材料介电常数及介质损耗测试仪

北京航天纵横检测仪器有限公司

高分子材料介电常数及介质损耗测试仪

高低频介电常数测试仪

一、满足标准：

GBT 1409-2006测量电气绝缘材料在工频、音频、高频（包括米波波长在内）下电容率和介质损耗因数的*方法

GB/T1693-2007 硫化橡胶 介电常数和介质损耗角正切值的测定方法

ASTM D150/IEC 60250固体电绝缘材料的(恒久电介质)的交流损耗特性和介电常数的测试方法

技术参数

校准频率：DC-30MHz

夹具设计：符合ASTM D150标准

测试原理：平行板电容器原理

高分子材料介电常数及介质损耗测试仪

测试电极：平行板上下电极+保护电极

电极直径：26.8mm

温度范围：RT-1000℃

工作温度：RT-600℃，RT-800℃

控温精度：±0.3℃

显示精度：0.1℃

升温速率：1-6℃/min

4个元件测试夹具（被测件尺寸：0.5 mm至20 mm）

独立选择2个通道的参数

直接读取介电常数、导磁率（选件）

控温方式：提供恒温、变温、常温三种控温方式，同时结合升温、降温温区可组合7种不同的测量方法。

温度控制：带智能PID控制算法，全温区控温无超调。

2个材料夹具（工作温度：-55至+200摄氏度）

多功能分析（温度、科尔-科尔图表、松弛时间）

扫描参数（频率、交流电平、直流偏置、温度）

E4990A 可在宽泛的阻抗区间提供 0.045%（典型值）的基本精度。E4991B 的基本精度为 0.65%，并且配有精确的材料测量选件，可以执行 -55oC ~ 150 oC 的温度表征，以及支持介电常数和导磁率的直接读取功能。

F阻抗/材料分析仪为表面贴装元件和介电/磁性材料的高精度测量提供总体解决方案。Agilent 4291使用的不是反射测量技术，而是直接电流和电压测量技术，从而能在宽阻抗范围进行更精确的阻抗测量。

基本阻抗精度为±0.8%。其高Q值精度可用于分析低损耗元件。

图谱数据：频率谱、电压谱、偏压谱、温度谱、时间谱、介温谱一次测量，同时输出，可保存BMP格式文件。

数据保存：数据库存储，支持excel、txt格式导出

测试样品：薄膜、陶瓷

样品尺寸：直径：小于40mm，厚度：小于8mm

通讯接口：RS232接口

自动电平精度控制和用IBASIC程序功能监视测试信号；可在恒压或恒流下测量器件。用可选的直流偏置(达40V和100mA)使测量偏置独立于阻抗特性。只要按一个按钮，内装的等效电路分析功能就自动计算5种电路模型的电路常数值。

高温介电测量系统用于高温下材料的介电性能测量与分析，包括介电常数、介质损耗、电容等参数。系统软件也可以测量其它阻抗参数。

系统使用圆柱型电极方法测量介电参数，应用于绝缘材料产品的开发与检测，评估产品介电性能与温度的关系。

安捷伦的xin阻抗分析仪是业界唯yi能在 20 Hz ~ 3 GHz 频率范围内对毫欧姆到兆欧姆的所有元器件执行高精度测量的仪器，因而能够轻松评估高质量元器件的真实特征。

为分析低电导率、低损耗材料要扩展即使是的频响分析仪的能力。阻抗仪（1260）单独使用时，已不能有效地解决上述问题。

高温阻抗测量系统用于高温下材料的阻抗性能测量与分析，包括阻抗、相位角及其它变换参数。系统软件也可以测量介电常数与介质损耗等介电参数。

具有抗电磁*力强、频率范围宽等特点，主要应用于材料研究与应用开发。测试电极使用铂金材料，可减少接触电阻。根据不同的测试材料，可以选择四探针与两探针两种测试夹具。

技术参数

校准频率：DC-30MHz

夹具设计：符合ASTM D150标准

测试原理：平行板电容器原理

测试电极：平行板上下电极+保护电极

阻抗测量超过100TΩ（1014Ω），测试范围从100Ω-100TΩ，达12个数量级；

精确测量介质损耗，tanδ<10-4；

频率范围：10μHz ～10MHz；

随着低功耗紧凑型设备市场需求的激增，高效的电源转换器已经变得更加重要，而且需要知道产品设计阶段关键的低损耗元器件的真实特征。

电极直径：26.8mm

温度范围：RT-1000℃

工作温度：RT-600℃，RT-800℃

可施加交流信号电压及直流偏压

施加高达1000V电压（用外接高压源或放大器）

去揭示先前难于达到的一些基本数据。

直接测量介电常数和介电损耗，阻抗谱cole-cole图，压电机电耦合系数，磁导率；

同时符合标准和国家标准。

控温方式：提供恒温、变温、常温三种控温方式，同时结合升温、降温温区可组合7种不同的测量方法。

温度控制：带智能PID控制算法，全温区控温无超调。

图谱数据：频率谱、电压谱、偏压谱、温度谱、时间谱、介温谱一次测量，同时输出，可保存BMP格式文件。

控温精度：±0.3℃

显示精度：0.1℃

升温速率：1-6℃/min

视频带宽：10Hz--1MH 1-10STEP

振幅测量范围：20dBm-平均显示噪声电平

显示范围（对数）：10dB/div 8div 1，2，5dB/div 10div

数据保存：数据库存储，支持excel、txt格式导出

测试样品：薄膜、陶瓷

样品尺寸：直径：小于40mm，厚度：小于8mm

通讯接口：RS232接口

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