双基涂层/铁基铝基测厚仪 LM38-WH82 返回列表页

双基涂层/铁基铝基测厚仪 LM38-WH82 

一体（铁基、铝基）两用涂层测厚仪,是具有更广泛使用范围的两用仪器，能够自动识别磁性或非磁性底材，可测量非磁性底材上的非导电性涂层和磁性底材上的非磁性涂层的厚度。
本仪器是磁性、涡流一体的双功能涂层测厚仪，它能快速、无损伤、精密地进行涂、镀层厚度的测量。
本仪器能广泛地应用在制造业、金属加工业、化工业、商检等检测领域。是材料表面涂层检测的仪器。
双基涂层/铁基铝基测厚仪 LM38-WH82 
Fe质探针可检测所有非磁性涂层厚度，例如涂在钢、铁上的漆、粉末涂层、塑料、瓷、铬、铜、锌等。

 
NFe质探针检测所有绝缘涂层厚度，例如漆、塑料、瓷等。这些涂层须涂在诸如铝、铜、黄铜或不锈钢等非磁性金属基体上
双基技术参数：
应用范围：非磁性底材上的非导电性涂层和磁性底材上的非磁性涂层的厚度
测量范围：0~1250um (其他量程可订制)
曲面：凸 5mm/ 凹 5mm
测量面积：10×10mm
薄基底：0.4mm
单位：公制/英制，可转换
机身尺寸：102mm x 66mm x24mm
测量准精度误差：零点校准 ±（1+3%H）；二点校准±【（1%～3%H）】H+1.5
电源：2节5号电池
重量：90g（含电池）
使用环境：温度：0-40℃ 湿度：≤85%
附件：标准片5片：50μm、100μm、250μm、500μm、1000μm（选配：12μm、25μm）
基体2块（铁基体、铝基体）