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BS-9000G变频抗干扰介质损耗测试仪

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更新时间：2016-08-10 14:25:44浏览次数：277次

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上海百试电气科技有限公司

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产品简介

BS-9000G变频抗干扰介质损耗测试仪突破了传统的电桥测量方式，采用变频电源技术，利用单片机、和现代化电子技术进行自动频率变换、模/数转换和数据运算；达到抗*力强、测试速度快、精度高、全自动数字化、操作简便；

详细介绍

BS-9000G变频抗干扰介质损耗测试仪可测试参数

可测量下列参数并数字显示：
被测试品的电容量值CX，以pF或nF为单位，1nF=1000pF。
被测试品的介质损耗值tgδ，以%显示。

BS-9000G变频抗干扰介质损耗测试仪技术指标

准确度： Cx:  ±（读数×1%+1pF）
tgδ: ±（读数×1%+0.00040）
抗干扰指标：变频抗干扰，在200%干扰下仍能达到上述准确度
电容量范围：内施高压： 3pF～60000pF/10kV 60pF～1μF/0.5kV
外施高压： 3pF～1.5μF/10kV  60pF～30μF/0.5kV
分辨率：  zui高0.001pF，4位有效数字
tgδ范围：不限，分辨率0.001%，电容、电感、电阻三种试品自动识别。
试验电流范围：10μA～1A
内施高压：设定电压范围：0.5～10kV
zui大输出电流：200mA
升降压方式：连续平滑调节
试验频率： 45、50、55、60、65Hz单频
45/55Hz、55/65Hz、47.5/52.5Hz自动双变频
频率精度： ±0.01Hz
外施高压：正接线时zui大试验电流1A，工频或变频40-70Hz
反接线时zui大试验电流10kV/1A，工频或变频40-70Hz
CVT自激法低压输出：输出电压3～50V，输出电流3～30A
CVT变比测量：
变比测量精度：±读数×1%     变比测量范围：10～99999
相位测量精度：±0.1°           相位测量范围：0～359.9°
测量时间：约40s，与测量方式有关
输入电源： 180V～270VAC，50Hz±1%，市电或发电机供电
计算机接口：标准RS232接口
打印机：  炜煌A7热敏微型打印机
环境温度： -10℃～50℃
相对湿度： <90%
外形尺寸：460×360×350mm
仪器重量：28kg直流电阻测试仪 http://www.sh-baishi。。ｃｏｍ