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新型贵金属检测仪   型号：3600E

 系统简介
 3600E是一种体现X射线荧光分析技术进展的能量色散X射线荧光光谱仪。它采用低功率小型X光管为激发源，多种准直器与滤波片，再加上我公司专门开发的应用软件，充分发挥各部件的优异性能，保证了整台仪器的高分辨率及通用适应性。任何需要多元素同时分析的地方， 正是它大有作为之处。
仪器检测能力强，分辨率高，适用于各行业对不同元素进行无损检测。在不同工作环境下分析范围从Al（13号元素）到U（92号元素）。无损分析迅速，无需制样，测试时间从几秒到几分钟可调。检测精度从PPM级别到千分之一级别。检测性能*保证了符合中华人民共和国 质量监督检验检疫总局、中国 标准化管理委员会2008年12月31日发布2009年7月1日实施GB/T 18043--2008标准对X射线荧光光谱分析仪：锰元素在5、89keV能量位置的峰，分辨率至少为200eV标准要求。并且其分辨率大大优于“至少为200eV标准要求”。
新型贵金属检测仪   系统组成
 3600E型贵金属检测仪一台
 贵金属分析软件一套
 密度分析软件一套
 3600E型贵金属检测系统整体技术参数与指标
1.  分析元素范围：铝（Al）13号元素——铀（U）92号元素
2.  元素分析含量范围：50ppm到99.99%
3.  元素同时分析能力：28种元素
4.  测量样品型态：固体，粉末，液体
5.  探测器：电制冷Si-PIN X-123一体化探测器
6.  X光管：低功率X射线管，使用水制冷系统，对各种元素激发效率更高
7.  高压电源：稳定的长效高压电源zui大功率50W
厂商：威思曼公司
8. 密度法检测系统: 密度检测以及检测软件一套,可对样品的密度(比重)进行准确分析鉴定,从而实现对未知样品内部材料的定性定量分析(本系统具有 性)
8.  定量分析方法：理论α系数法，多元回归法，基本参数法，（国内同行业*采取此类综合计算方法）
9.  定性分析方法：元素自动寻峰，Kl谱线标记法，峰谱比对法等
10. 硬件结构：仪器双箱体结构，有效屏蔽干扰，增加仪器整体稳定性
三重防辐射：配备光电快门装置，更换样品时X光管自动切断电压电流；样品仓打开，X光管快门自动闭锁；仪器多层屏蔽舱盖，有效防止X射线外溢； 样品成像定位系统：内置自动感光高像素摄像头及的定位软件，方便样品的局部定位测量
温度控制系统：内部风冷水冷双循环冷却，zui大限度降低X光管工作温度延长光管使用寿命，且保证仪器长时间工作稳定，测量精度准确
11. 操作软件：开放的可供客户自行开发和升级的工作软件。银，铜双峰位同时校准，使仪器校准更加精准，随时修正工作曲线，使测量结果达到zui高精度（同行业中 采取此校准方法）.一键式操作模式更方便使用者
12. 测量精度：以黄金样品为例
高含量样品 （含量在97%以上）误差±0.15 %
中高含量样品（含量在75%以上）误差±0.1-0.3%
低含量样品 （含量在75%以下）误差±0.3%
13. 精确测量黄金铂金当中的铱元素，可测量2%左右的铱含量
14. 镀层检测：仪器可对不同基体上的不同镀层进行检测，并得出准确结果
 3600E型贵金属检测系统硬件技术规格
1.  外型尺寸：600mm×510mm×350mm 
2.  大样品仓：方便大型样品的检测
关仓测量：330mm×340mm×115mm开仓测量：无限大
3. 仪器重量：50公斤
4. 工作环境温度：15—28℃
相对湿度： ≤70%
电    源：交流 220V  50Hz
5.  工作环境相对湿度：≤70%
6.  元素分析范围：铝（Al）13号元素——铀（U）92号元素
7.  含量分析范围：50ppm到99.99%
8.  测量时间: 5秒到180秒可调，一键式快速测量，3.5秒可出结果,测量次数任意可调,且在多次
测量时可做平均值及标准偏差测量
9.  激发源：低功率X射线管，使用水制冷系统，对各种元素激发效率更高
10. 高压电源：稳定的长效高压电源zui大功率50W，电压和电流从零至满量程连续可调：zui大50KV，1mA
11. 探测器：美国Amptek公司
12. 整机分辨率：锰元素在5.89keV能量位置的峰，分辨率为155±10eV（*符合中华人民共和国 质量监督检验检疫总局、中国 标准化管理委员会2008年12月31日发布；2009年7月1日实
施GB/T 18043--2008标准对X射线荧光光谱分析仪；锰元素在5.89keV能量位置的峰，分辨率至少为200eV标准要求）
13. 多道分析器：2048道
 3600E型贵金属检测系统进口探测器性能指标
1.   厂商：美国Amptek公司
2.  探测器类型：电制冷Si-PIN X-123一体化探测器
3.  探测面积： 6mm2
4.  探测器窗口：铍窗，25um厚
5.  硅活化区厚度：500um
6.  探测器分辨率：对于55Fe，@5.9keV  对于12us的形成时间，半高宽为149eV
 3600E型贵金属检测系统高压电源规格
1.  电压和电流从零至满量程连续可调：zui大50KV，1mA
2. 电压调整率：负载调整率：从空载到满载，电压变化为满量程0.01 %
3. 线性调整率：对于规定的输入电压范围，该数值为满量程0.01%
4. 电流调整率：负载调整率：从空载到满载，电流变化为满量程0.01%
5. 线性调整率：对于规定的输入电流范围，该数值为满量程0.01%
6. 稳定性：经过半小时预热后，每8小时变化不0.05%
7. 温度系数：温度变化一度，电压变化不过0.01%

模拟器件综合测试仪 型号 ：XJ4828  
特点： 
采用彩色LCD显示  
具有数字存储功能  
能满足对半导体管特性、三端稳压集成电路进行图示、参数测量  
能对模拟器件进行分析、参数挑选、配对等  
半导体管测试单元能满足对二管、三管、场效应管、VMOS等器件的直流参数的特性测试。  
三端稳压器测试单元能测试被测器件静态特性和负载特性曲线  
线性集成电路测试单元具有“手动”和“自动”两种测试模式。  
能对模拟运算放大器、比较器常用指标进行综合测试，直观地显示其大不失真输出幅度。  
具有过载保护功能，能自动保护被测器件和测试仪器  
带计算机接口(USB) 
主要技术指标 
线性集成电路测试 
失调电压： 0～60mV 误差±5%读＋2字 
失调电流： 0～10μA 误差±5%读＋2字 
输入偏置电流： 0～10μA 误差±5%读＋2字 
差模开环增益： 60～99.9dB 误差±5%读＋2字 
100～110dB 误差±7%读＋2字 
共模抑制比： 60～99.9dB 误差±5%读＋2字 
100～110dB 误差±7%读＋2字 
大输出幅度： ±4V～±24V 误差±7%读＋2字 
静态消耗电流： 0～20mA 误差±5%读＋2字 
半导体管测试 
集电电压： 0.05V/div～50V/div 误差 ±3％ 
二管测试电压： 0～3000V (配选购件) 误差 ±5％ 
基电压： 0.05V～1V/ div 误差 ±3％ 
集电电流： 10μA～1A/div 误差 ±3％ 
集电漏电流： 0.2μA～5μA/div 误差 ±3％～10％ 
阶梯电压： 0.05V～1V/级 误差 ±3％ 
阶梯电流： 0.2uA～50mA/级 误差 ±5％～7％ 
△Ub ： ±8V 
功耗限制电阻: 0～500KΩ 误差 ±10％ 
一般性能 
使用电源 AC 220V/50Hz 
视在功率 80VA 
外形尺寸 300B×360H×530Dmm 
重 量 19kg

产品名称：土壤(肥料)养分速测仪/土肥养分检测仪 产品型号：YP-ZYD-TF

土壤(肥料)养分速测仪/土肥养分检测仪型号：YP-ZYD-TF  
功能及特点： 
• 1、可快速测试土壤、化肥、植株中的氮、磷、钾、有机质、腐殖酸、含盐量、酸碱度等项目。 
• 2.独立12个通道的样品池，配备12个光源和12个检测器；以并联的方式连接到运算模块，检测时互不干扰。仪器能自动通过用户所选择项目判断所需波长，并进行提示将样品放置到相应的通道。 
• 3.仪器配备460nm,535nm,589nm,640nm等4种波长，能适合更多项目的检测，也能方便扩展更多项目。 
• 4.采用薄膜键盘进行操作，使用寿命长，可靠性高。 
• 5.采用高亮发光二管作为光源，寿命长，稳定性好。 
• ★6.仪器开机自动校准光源到状态。 
• 7.仪器内置大容量内存进行数据存储，可存储2000条数据。 
• 8.内置高速微型热敏打印机，可实时打印测量数据  
• 9.配备USB接口，可与计算机工作站软件进行通讯连接； 
• ★10.计算机工作站软件可直接对仪器进行操作控制，并同时进行数据处理，统计分析,并可以通过对土壤、化肥、植株中的氮、磷、钾、有机质、腐殖酸、含盐量、酸碱度(定量)、环境(土壤、水、空气)温度等数据进行分析，根据内置的农作物生长发育所需养分量，对用户进行施肥量指导。  
• ★11.仪器配备GPS模块，检测数据包含地理位置信息，便于监管系统对数据进行统计分析。 
• 12.配备大容量充电电池，无需外接电源可连续工作8小时以上。 
• 13.仪器全金属外壳。 

主要技术参数： 
1.检测通道数量：12通道 
2.光源波长：460nm,535nm,589nm,640nm 
★3.100%噪声 ≤0.5%τ 
★4.0%噪声 ≤0.2%τ 
5. 漂移 ≤0.4%τ/30min 
★6.显示：5寸大屏幕全中文液晶显示 
7.存储：2000个以上测试结果 
8.接口：USB 
9.打印：内置微型热敏打印机 
10.电源：16V DC /内置电池