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台式半导体膜厚测试仪

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更新时间：2017-01-05 12:48:41浏览次数：481次

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产品简介

台式半导体膜厚测试仪用于测量金属电镀层的厚度，包括单镀层、双镀层、多镀层的测试，是目前各电镀厂家对产品品质检测的仪器之一。行业用于电子元器件，半导体，PCB，LED支架，五金电镀，连接器等……多个行业表面镀层厚度的测量.

详细介绍

台式半导体膜厚测试仪用于测量金属电镀层的厚度，包括单镀层、双镀层、多镀层的测试，是目前各电镀厂家对产品品质检测的仪器之一。行业用于电子元器件，半导体，PCB，LED支架，五金电镀，连接器等……多个行业表面镀层厚度的测量.
新型号设计，快速分析（几秒）1-4层镀层厚度，多款规格，例如标准样品台、加深样品台或自动程控样品台，满足所有样品类型，开槽式样品舱可检测大面积样品，例如印制线路板等.符合ISO3487和ASTM B568检测方法.

台式半导体膜厚测试仪

* 仪器的特长：广泛应用型可测元素：AL～U
* X射線管：小型空气冷却型高功率X射线管球（W靶）
* 管电压：45kV
* 管电流：1mA Be
* 窗滤波器：一次滤波器：A1-
* 自动切换二次滤波器：Co-
* 自动切换检测器：比例计数管
* 样品观察：CCD摄像机
* 对焦方式：激光自动对焦
* 测定软件：世界上zui的FP法。数学计算测量方法 .
* 安全机能：测量室门自锁功能 Z轴防冲撞功能仪器自诊断功能
* 仪器介绍：测量数据与Word和Excel链接自动生成报告和数据处理