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上海大栩祥光电科技有限公司
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激光物证勘查仪（半导体激光勘查光源系统）
技术参数：
Z大功率：6W、8W、10W、12W。
中心波长：450nm 532nm。
色纯带宽：0.5nm。
启动时间：10ns。
光均匀度：90%。
供电模式：交直流两用。
输出功率可调，光斑大小可变。
总重量：8Kg。
通过国内刑事专家鉴定，获得*部刑事技术产品质量监督检验中心检验证书。
激光物证勘查仪（半导体激光勘查光源系统）
技术参数：
zui大功率：6W、8W、10W、12W。
中心波长：450nm 532nm。
色纯带宽：0.5nm。
启动时间：10ns。
光均匀度：90%。
供电模式：交直流两用。
输出功率可调，光斑大小可变。
总重量：8Kg。
通过国内刑事专家鉴定，获得*部刑事技术产品质量监督检验中心检验证书。
规格型号：
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